集成电路芯片、分立器件、被动器件等电子元器件的可靠性试验
电子设备主要是由电子元器件组成的。电子元器件是构成电子设备最小和最基本的单元，电子元器件的可靠性直接影响电子设备可靠性。CTI华测检测可以针对元器件从无损检测、破坏性物理分析、失效分析、可靠性分析等各方面进行质量检验检测，为产品的工艺改进、质量及可靠性的提升提供支持。
电子元器件失效的原因是什么？
电子元器件对环境的耐受性能如何？
如何保证电子元器件的可靠性？
GB/T2423/IEC60068系列电工电子产品环境试验；
MIL-STD-883K微电子器件试验方法和程序；
MIL-STD-202美军标电子及电气元件测试方法；
GJB150系列军用装备实验室环境试验方法；
GJB360B电子及电气元件试验方法；
GJB548B微电子器件试验方法和程序；
GJB4027A军用电子元器件破坏性物理分析方法；
JESS22系列环境可靠性测试；
J-STD002E元器件引线、端子、焊片、接线柱和导线的可焊性测试；
J-STD020E非气密性固体表面贴装器件的湿热敏感等级；
J-STD035非气密性封装电子元器件的声学显微镜扫描等。
集成电路IC、晶体管、MOS管、电阻、电容、电感、LED、光伏元件、机电元件、传感器等。
请联系我们的业务或客服，以具体标准为准。
主要测试项目
X-ray透视检查
湿热敏感等级
SEM扫描电镜
XRD测试
超声波显微扫描
PCT/HAST高加速应力试验
微探针应用
高温
HTOL/LTOL高/低温操作寿命
温度循环
THB温湿度偏压
Reflow回流焊
LCR电感电容电阻量测
温湿度
I-V曲线量测
气态冷热冲击
切片分析
液态冷热冲击
开封
绝缘电阻
引线键合强度
耐电压
可焊性
寿命
耐焊接热
机械振动
金属耐溶解性
机械冲击
CTI华测检测提供全面的可靠性测试一站式解决方案，包括：
环境测试
可靠性测试
可靠性设计
可靠性分析
产品评估
可靠性培训及咨询
拥有众多先进仪器设备并通过CMA/CNAS资质认可，测试数据准确可靠，检测报告具有国际公信力。
科学的实验室信息管理系统，保障每个服务环节的高效运转。
技术专家团队实践经验丰富，可提供专业、迅速、全面的一站式服务。