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DINEN12617-3-2002混凝土构件的保护和检修用产品和系统.试验方法.第3部分:结构粘合剂早期寿命线性收缩率的测定;德文版本EN12617-3:2002

DINEN12727-2001家具.排列座位.强度和寿命的试验方法和要求

DIN50440-1998半导体工艺材料的试验.硅单晶中载流子寿命的测量.用光电导法在微小喷射时测量复合载流子寿命

DINEN2591-406-1998航空航天系列.电气和光学仪器连接元件.试验方法.第406部分:机械寿命

DIN53533-3-1988弹性材料试验.通过疲劳试验测试工作寿命和释热.(曲度计检验).压缩曲度计

DIN53533-1-1988弹性材料试验.通过疲劳试验测试工作寿命和释热(曲度计检验).基本原理

DIN53533-2-1988弹性材料试验.通过疲劳试验测试工作寿命和释热.(曲度计检验).旋转曲度计

YY/T0616.2-2016一次性使用医用手套.第2部分:测定货架寿命的要求和试验

LSTEN3745-410-2015航空航天系列.飞行器用光纤和光缆.试验方法.第410部分:热寿命

EN3745-410-2015航空航天系列.航空用光缆.试验方法.第410部分:热寿命

EN302-7-2013承重木结构用粘合剂.试验方法.第7部分:基准条件下工作寿命的测定

EN455-4-2009一次性医用手套.第4部分:货架寿命测定的要求和试验

EN3745-410-2007航空航天系列.航空器用光纤和光缆的试验方法.第410部分:热寿命

EN2349-317-2006航空航天系列.继电器和电流接触器要求和试验程序.第317部分:线圈开关设备使用寿命

EN2349-312-2006航空航天系列.继电器和电流接触器要求和试验程序.第312部分:电器使用寿命.混合负载

EN2349-316-2006航空航天系列.继电器和电流接触器要求和试验程序.第316部分:机械寿命(减负荷耐用性)

EN4057-402-2006航空航天系列.导线电缆扎匝的试验方法.第402部分:寿命周期

EN3841-306-2004航空航天系列.断路器的试验方法.第306部分:使用寿命

EN12617-3-2002混凝土结构保护和修缮用产品及系统的试验方法.第3部分:结构粘合剂早期寿命的线性收缩率的测定

NFL52-252-402-2015航空航天系列.导线电缆扎匝.试验方法.第402部分:寿命周期

NFT76-152-7-2013承重木结构用胶粘剂-试验方法-第7部分:正常工作寿命测定

NFC96-022-23/A1-2012半导体器件-机械和气候试验方法-第23部分:高温工作寿命.

NFL52-400-410-2008航空航天系列.航空器用光纤和光缆.试验方法.第410部分:热寿命

NFL52-252-402-2007航空航天系列.导线电缆扎匝.试验方法.第402部分:寿命周期

NFL58-100-317-2007航空航天系列.继电器和接触器要求和试验程序.第317部分:线圈开关装置使用寿命

NFL58-100-312-2007航空航天系列.继电器和电流接触器要求和试验程序.第312部分:电气设备寿命.混合负荷

NFL58-100-316-2007航空航天系列.继电器和电流接触器要求和试验程序.第316部分:机械寿命(减少载荷下的耐久性)

NFL58-405-306-2005航空航天系列.断路器.试验方法.第306部分:使用寿命

NFC96-022-23-2004半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温操作寿命

NFC96-022-5-2003半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温度湿度偏差寿命试验

NFC58-982-3-2002电动道路车辆动力装置用二次蓄电池.第3部分:性能和寿命试验(城市用车辆交通相容性)

NFP98-231-5-1997路面试验.非沥青材料压实试验.第5部分:利用声波检验法测定粒状粘结材料的使用寿命

NFE66-505-1993单刃车刀的刀具寿命试验

NFE66-511-1989铣刀寿命试验.第1部分:平面铣削加工

NFE66-512-1989铣刀寿命试验.第2部分:端铣削加工

DB44/T1476-2014电动汽车用锂离子蓄电池模块循环寿命试验规程

SAEJ2801-201312V汽车蓄电池的全面寿命试验

SAEJ240-2012汽车蓄电池的寿命试验

SAEJ2185-2012重型蓄电池寿命试验(仅铅酸蓄电池)

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ANSI/ASTMF1692:2011家庭中央真空吸尘系统涡轮动力喷嘴寿命评估试验方法

ANSI/ASTMF884:2011内置集中式真空吸尘器的电动机寿命评定的试验方法

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ANSI/TIA/EIA455-130-2001激光二极管的抗高温寿命试验

ANSI/ASTMB76:2001电加热用镍铬和镍铬铁合金加速寿命试验方法

ANSI/ASTMB78:2001铁镍铝合金电加热加速寿命试验方法

ANSI/DASMA109-2001住宅车库门的标准试验方法:寿命循环性能的测定

ANSI/EIA-364-22B-2000电连接器的模拟寿命试验程序

ANSI/EIA364-22B-2000电连接器和插孔的寿命试验程序

ANSI/EIA364-17B-1999电连接器.有或无电气负载的温度寿命试验程序

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GMWGMW8287-2011高急速寿命试验(HALT),高加速应力屏蔽和审计.第2次出版(英文版本)

DB13/T1323-2010LED加速寿命试验方法

KSCIEC60512-10-4:2008电子设备连接件.试验和测量方法.第10-4部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验.试验10d:连接器电过负荷

KSRISO4548-4:2007内燃机全流式机油滤清器试验方法.第4部分:原始容灰量、滤芯寿命和累积效率(重量法)

KSC7107-2007等离子显示板.加速寿命试验(ALT)

KSA5608-3-2006加速寿命试验.第3部分:加速寿命试验的参考资料分析

KSA5608-2-2006加速寿命试验.第2部分:加速寿命试验的设计

KSA5608-1-2006加速寿命试验.第1部分:加速寿命试验的概要

KSCIEC60749-23:2006半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温操作寿命

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KSCIEC61982-3:2003电动道路车辆驱动用蓄电池.性能和寿命试验

KSBISO3685:2003单刃车刀的刀具寿命试验

KSBISO8688-1:2003铣刀寿命试验.第1部分:平面铣刀

KSBISO8688-2:2003铣刀寿命试验.第2部分:立铣刀

KSCIECPAS62164:2003GaAsMMIC和FET寿命试验导则

KSCIECPAS62161:2002稳恒温度.湿度偏差寿命试验

KSC2602-2002电热丝及带的加速寿命试验

KSB3708-2002单刃刀具寿命试验法

YB/T4169-2007钎杆寿命试验方法

YB952-1982高电阻电热合金快速寿命试验方法

AASHTOT321-2007压实沥青混合料受到反复弯曲疲劳寿命的标准试验方法

AASHTOTP8-1994测定重复挠曲下压实热拌沥青混凝土疲劳寿命的标准试验方法.2000年版;2001年4月临时版本R(1996)

GJB5902.7-2006微声手枪试验方法第7部分:综合寿命试验

GJB5489.10-2005航空机枪试验方法第10部分:综合寿命

GJB5487.9-2005水下枪械性能试验方法第9部分:综合寿命

GJB5491.10-2005末制导炮弹试验方法第10部分:工作寿命试验

GJB5495.7-2005榴弹发射器试验方法第7部分:综合寿命试验

GJB3196.26A-2005枪弹试验方法.第26部分:枪弹对枪械寿命影响试验

GJB5389.34-2005炮射导弹试验方法第34部分:工作寿命试验

AECMAPREN3745-410-2006航空航空航天系列.航空用光缆和光纤试验方法.第410部分:热寿命

AECMAPREN3841-306-2003航空航天系列.断路器试验方法.第306部分:使用寿命

AECMAPREN4057-402-2001航空航天系列铠装用绳索系材试验方法.第402部分:寿命周期.P1版

AECMAPREN2349-316-2000航空航天系列继电器和接触器要求和试验程序.第316部分:机械寿命(折算荷载下的持久度).P1版

AECMAPREN2349-312-2000航空航天系列继电器和接触器要求和试验程序.第312部分:电气服务寿命和混合-载.P1版

AECMAPREN2349-317-2000航空航天系列继电器和接触器要求和试验程序.第317部分:线圈开关器件的服务寿命.P1版

AECMAPREN2349-316-1999航空航天系列继电器和接触器要求和试验程序.第316部分:机械寿命(折算荷载下的持久度)3E版

AECMAPREN2349-317-1999航空航天系列继电器和接触器要求和试验程序.第317部分:线圈开关器件的服务寿命3E版

AECMAPREN2349-313-1999航空航天系列继电器和接触器要求和试验程序.第313部分:电气服务寿命-电阻性-载3E版

AECMAPREN2349-314-1999航空航天系列继电器和接触器要求和试验程序.第314部分:电气服务寿命-电感-载3E版

AECMAPREN2349-315-1999航空航天系列继电器和接触器要求和试验程序.第315部分:电气服务寿命-电光-荷3E版

AECMAPREN3841-306-1998航空航天系列.断路器试验方法.第306部分:使用寿命

AECMAPREN3841-306-1996航空航天系列.断路器试验方法.第306部分:使用寿命

AECMAPREN2591-D6-1992航空航天系列.光电连接元件试验方法D6部分:机械寿命

IEEE1458:2005工业用模制壳体断路器的选择、现场试验和估计寿命的推荐规程

EN60749-23-2004半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温操作寿命IEC60749-23-2004

ASD-STANPREN3841-306-2003航空航天系列.断路器.试验方法.第306部分:使用寿命;第P3版

ASD-STANPREN2349-312-2000航空航天系列.继电器和触点的要求和试验方法.第312部分:服务寿命.混合负载;第P1版

ASD-STANPREN2349-317-2000航空航天系列.继电器和触点的要求和试验方法.第317部分:线圈开关装置的使用寿命;第P1版

ASD-STANPREN2349-316-2000航空航天系列.继电器和触点的要求和试验方法.第316部分:机械寿命(小负荷情况下的负荷);第P1版

ASD-STANPREN2349-314-1999航空航天系列.继电器和触点的要求和试验方法.第314部分:使用寿命.电感负荷;第3E版

ASD-STANPREN2349-313-1999航空航天系列.继电器和触点的要求和试验方法.第313部分:服务寿命.电阻负荷;第3E版

ASD-STANPREN2349-315-1999航空航天系列.继电器和触点的要求和试验方法.第315部分:使用寿命.灯泡负荷;第3E版

TIA/EIA-455-4C-2002FOTP-4.光纤元部件的温度寿命试验

TB/T3056.4-2002内燃机车机油滤清器滤芯堵塞寿命试验方法

JEDECJESD22-A100-B-2000循环的温度潮湿对寿命影响的试验

JEDECJEP118-1993GaAsMMIC和FET寿命试验导则

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CNS9230-1987干式簧开关检验法(接触点寿命试验)

CNS10875-1987光纤装置检验法(温度寿命试验FOTP–4)

CNS2963-1975电热线与电热带寿命试验方法

ECAEIA/ECA-364-22B-2000TP-22B型电连接器模拟条件下的寿命试验步骤

HG/T3611-1999鞋类模拟行走(寿命)试验方法

QC/T513-1999汽车前轴台架疲劳寿命试验方法

WJ/Z396-1997火炮身管疲劳寿命试验方法

SJ/T10624-1995X射线管寿命试验方法

SJ2664-1986氦氖激光器的加速寿命试验方法

SJ2295-1983接收用电子束管加速寿命试验方法

SJ2133-1982氧化物阴极加速寿命试验方法

SJ1703-1981小功率电子管加速寿命试验方法(暂行)

SJ26-1979小功率电子管寿命试验方法

SJ/T11102-1996寿命试验用表简单线性无偏估计用表(正态分布、对数正态分布)

SJ/Z9073.3-1987电气继电器第十五部分:电气继电器触点的寿命试验-试验设备的特性规范

SJ/T10131-1991电气继电器第十四部分:电气继电器触点的寿命试验-触点负载的优先值

SJ/T11099-1996寿命试验用表最好线性无偏估计用表(数值分布、威布尔分布)

SJ/T11101-1996寿命试验用表最好线性无偏估计用表(正态分布、对数正态分布)

SJ/T11103-1996寿命试验用表Γ(1+1/m)数值表

SJ/T11100-1996寿命试验用表简单线性无偏估计用表(极值分布、威布尔分布)

JC/T551-1994坐便器低水箱配件—排水阀密封及寿命试验方法

JB/T7049-1993滚动轴承寿命及可靠性试验规程

CB/T3397-1993船用阀门静压寿命试验

SJ/T10345.5-1993寿命试验用表r(1+1/m)数值表

SJ/T10345.3-1993寿命试验用表最好线性无偏估计用表(正态分布)

SJ/T10345.2-1993寿命试验用表简单线性无偏估计用表(极值分布)

SJ/T10345.4-1993寿命试验用表简单线性无偏估计用表(正态分布)

SJ/T10345.1-1993寿命试验用表最好线性无偏估计用表(极值分布)

YD/T608-1992纵横接线器的寿命试验方法

JB5217-1991丝锥寿命的试验方法及其验收条件

JB5614-1991锯片铣刀寿命的试验方法及其验收条件

ASMEB94.55M-1985单刃车刀的寿命试验

NEMAC78.1450-1983电灯.白炽投影灯.寿命试验方法[代替:ANSIC78.1450,ANSIC78.1450]

THE END
1.(完整版)电子元器件电路布局可靠性设计经管文库(完整版)电子元器件电路布局可靠性设计 https://bbs.pinggu.org/thread-13520117-1-1.html
2.系统架构师论文论软件可靠性设计在一般情况下,计算机系统的硬件故障通常是由元器件的失败引起的,在对元器件进行了寿命试验并根据实际资料的统计得出:元器件的可靠性一般可以分为三个阶段: 第一阶段:即开始阶段,元器件的工作处于不稳定期,这个时候的失败率较高。 第二阶段:这个时候的元器件是进入正常工作的时期,因此相对于之前第一阶段和之后的第https://blog.51cto.com/u_16213653/12986257
3.元旦大礼包:100篇原创干货今天是2025/01/01,硬件微讲堂 祝各位同学在2025年好运连连,财源广进,心想事成。二火老师特意准备了一份大礼包——100篇原创技术文章,还请各位笑纳,希望各位在技术进阶的道路上蒸蒸日上,在项目开发过程中过关斩将,一帆风顺! 关于共模电感: 这个面试题,看看你的答案能得多少分? https://www.eet-china.com/mp/a373267.html
4.研究进展及前景动态分析报告(2025版)原理储能元器件四、储能市场 五、发电设备 六、军用设备 第二章 2023-2024年中国超级电容器行业发展环境分析 第一节 2023-2024年中国宏观经济发展环境分析 一、经济发展现状分析 二、当前经济主要问题 三、未来经济运行与政策展望 第二节 产业政策环境 一、电子元器件行业监管体制 https://www.163.com/dy/article/JKELB6EB05566YYU.html
5.电子元器件仓库储存要求与期限规定.pptx电子元器件仓库储存要求与期限规定.pptx,电子元器件仓库储存要求与期限规定;CONTENTS;添加章节标题;仓库储存要求;仓库环境要求;温度和湿度控制;防尘和防潮措施;防火和防盗措施;电子元器件分类储存;电阻类;电容类;电感类;二极管和晶体管类;储存期限规定;电容器:储存期限一般https://m.book118.com/html/2023/1224/5030310140011031.shtm
6.电子元件常识,这个可以看snifer电子技术应用AET此外由于工艺技术的限制,模拟电路设计时应尽量少用或不用电阻和电容,特别是高阻值电阻和大容量电容,只有这样才能提高集成度和降低成本。某些射频IC在电路板的布局也必须考虑在内,而这些是数字IC设计所不用考虑的。因此模拟IC的设计者必须熟悉几乎所有的电子元器件。http://blog.chinaaet.com/snifer/p/17367
7.MSD(湿敏器件防护)控制技术要求规范备注:所有潮湿敏感器件均具有MSL。步步高教育电子采购的湿度敏感性电子元器件的敏感等级《步步高教育电子MSD器件等级库及烘烤要求明细表》。 10、潮湿敏感器件包装要求 10.1、MSD干燥包装要求 MSD干燥包装由密封在防潮包装袋(MBB)中的干燥剂材料、湿度指示卡(HIC)和潮敏标签等组成。不同MSL的MSD干燥包装有详细要求,具体https://www.360docs.net/doc/c04b260780c758f5f61fb7360b4c2e3f562725da.html
8.深度:5万字长文,说清楚到底什么是“车规级”电子头条对汽车电子零部件来讲,比如VCU模块,ECU模块等,其首先需要选用符合AEC标准的电子元器件,再以电子零部件总成的方式,依据相关行业标准,在合规试验室,通过OEM规定的相关测试项目及等级,拿到测试报告,然后才可以装车量产。至于具体测试计划、测试项目、周期、测试工装、费用等,掰开讲内容非常多。 https://news.eeworld.com.cn/mp/XSY/a139626.jspx
9.电子元器件FMEA的常见失效根据经验,电子元器件故障的原因主要有两个:一是不正常的电气条件;二是不正常的工作环境。优良的电气条件取决于电路的正确设计。如果元件能够在额定状态下工作,其寿命就会较长。如果过载使用,寿命就会缩短。其次,环境条件中如高温、高湿、空气中的尘埃和腐蚀性化学物质、ESD等都会影响元器件的寿命。 http://www.gemini-mct.com/news/industry/52810910019.html
10.2022年度陕西省技术创新引导计划项目申报指南3.5 新型显示器件特色光刻胶的研发 3.6 新型电子显示用高可靠性导热覆铜板技术开发 3.7 显示器件控制用微型石英元器件技术研究 3.8 SMT 组装加工自动化创新技术研发 4.航空航天高端装备制造及应用产业创新链(铜川市重大技术需求) 4.1 增材制造用高强韧镁合金材料的制备及工艺 http://www.kt180.com/m/view.php?aid=9892
11.可靠性设计技术发展与现状系统装备级的可靠性设计指标,由产品可靠性指标分配获得,即通过指标分配将整个系统的可靠性要求转换为每个分系统、每个单元、每个元器件的可靠性要求。例如,航空电子设备的可靠性设计要求有三项:表征连续或间断工作××小时的工作寿命,表征工作寿命至少应当有××小时的总工作寿命,表征可靠性的平均失效间隔时间(MTBF)。其https://mp.ofweek.com/ic/a756714647077
12.电子元器件介绍(精选6篇)它能将电能转变成化学能储存起来,在使用时,再将化学能转换成电能,它是可逆的,如电能化学能锂电池的主要特点:灵巧型便携式电子产品要求尺寸小、重量轻,但电池的尺寸及重量与其它电子元器件相比往往是最大的及最重的。例如,想当年的“大哥大”是相当“粗大、笨重”,而今天的手机是如此的轻巧。其中电池的改进是起了https://www.360wenmi.com/f/filee6c00lkd.html
13.电子元器件寿命试验简介电子元器件寿命试验简介 寿命试验是评价、分析产品寿命特征的试验,它是在实验室条件下,摸拟实际工作状 态或储存状态,投人一定样品进行试验,试验中记录样品失效的时间,并对这些失效时间 进行统计、分析,以评估产品的可靠性数量特征(如可靠度、失效串、平均寿命等),作为可 靠性预测、可靠性设计、制定筛选条件、制定例行http://www.shshangqi-test.com/shangqi-Article-150890/
14.《电子元器件的可靠性》——3.3节可靠性筛选试验根据筛选的性质和所加的应力或所使用的仪器设备的不同,可靠性筛选试验大致可分为四类:检查筛选、密封性筛选、环境应力筛选和寿命筛选,如表3.8所示。 3.3.2 筛选方法的评价 为了比较各种筛选方法的优势,必须确定筛选方法好坏的标准。目前在电子元器件筛选中常使用下面三个指标来作为评价筛选方法好坏的尺度。 https://developer.aliyun.com/article/118462
15.《电子元器件的可靠性》——3.6节恒定应力加速寿命试验对于可靠性高的电子元器件进行长期寿命试验,无论是从成本还是从时间上来看,都是不合算的,甚至是不可能的。例如,人造地球卫星上所使用的电子元器件,要求失效率小于2.6×10-8/小时,如果要验证它,抽取1000个元件进行试验,若允许5个元件失效,则需试验22年。而对可靠性要求更高的元件,如果要求失效率小于10-10/小时,https://www.pianshen.com/article/76021834608/
16.IC产品的质量与可靠性测试元器件毁坏 Au Wire Ball Bond with Kirkendall Voiding ④PCT:高压蒸煮试验 Pressure Cook Test (Autoclave Test) 目的:评估IC产品在高温,高湿,高气压条件下对湿度的抵抗能力,加速其失效过程。 测试条件:130℃, 85%RH, Static bias,15PSIG(2 atm) https://www.douban.com/note/708524985/
17.新型电子元器件9篇(全文)量子电子元器件展望 第3篇 近年来电子技术和电子产业的发展很快,新技术,新产品不断涌现,尤其是随着电子产品中信号传输的速度也越来越快,传输的频率也越来越高,以普通半导体电子元器件构成的电路,虽然在印制电路板设计中尽量注意布局布线,但是也不可避免多少会在信号传输的过程中产生信号完整性(SI)问题。另一方面,人https://www.99xueshu.com/w/ikey2xschae8.html
18.电子元器件电子元器件1906年,美国发明家德福雷斯特(De Forest Lee)发明了真空三极管(电子管)。第一代电子产品以电子管为核心。四十年代末世界上诞生了第一只半导体三极管,它以小巧、轻便、省电、寿命长等特点,很快地被各国应用起来,在很大范围内取代了电子管。五十年代末期,世界上出现了第一块集成电路,它把许多晶体管等电子https://baike.sogou.com/v2930561.htm
19.器件失效原因及老化筛选设计应用电子元器件在早期失效器后,就进入到偶然失效期。这一阶段的特点是失效率低而稳定,而表现的是偶然性质。这是元器件的工作阶段。因为这一段使用时间长,所以也叫使用寿命期。一个好的集成电路,其偶然失效可达百万小时以上。 在此期间的失效原因,可以看成是在某一时刻元器件所积累的应力(指对器件的功能有影响的各种https://www.dzsc.com/data/2018-9-4/118946.html
20.电子元器件的有效期是多久?电子元器件保质期几年导语:电子元器件是现代电子设备中不可或缺的基本构成部分,而电子元器件的有效期是指其能够稳定可靠地工作的时间。了解电子元器件的有效期对于电子产品的设计、生产和维修都具有重要意义。下面电子元器件采购就来探讨电子元器件的有效期,并介绍一些延长电子元器件寿命的方法。 https://blog.csdn.net/xuweibin666/article/details/132106705